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高低溫試驗箱

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光學儀器的環(huán)境試驗方法不止于高低溫試驗箱

時間:2018/7/12 10:35:42
 

      GB/T 12085系列標準的環(huán)境試驗方法,是專門為光學和光學儀器而準備的,共由16部分組成,其中第2部分就提到了低溫、高溫,所以高低溫試驗箱是“勢在必行”了。當然除了這款雅士林儀器所生產(chǎn)的試驗箱外,還有濕熱試驗,第4部分的鹽霧試驗,第5部分的低溫、低氣壓綜合試驗,第6部分的砂塵試驗,第7部分的滴水、淋雨試驗,還有第8部分的高壓、低壓、浸沒試驗,第9部分的太陽輻射試驗,第10部分和第11部分的振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗、長霉試驗,以及其他部分雅士林儀器并不生產(chǎn)的力學設(shè)備,如振動、沖擊、碰撞、跌落、彈跳等。

高低溫試驗箱

      系列標準號如下:
      GB/T 12085.1-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第1部分:術(shù)語、試驗范圍;
      GB/T 12085.2-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第2部分:低溫、高溫、濕熱;
      GB/T 12085.3-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第3部分:機械作用力;
      GB/T 12085.4-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第4部分:鹽霧;
      GB/T 12085.5-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗;
      GB/T 12085.6-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第6部分:砂塵
      GB/T 12085.7-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第7部分:滴水、淋雨
      GB/T 12085.8-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第8部分:高壓、低壓、浸沒
      GB/T 12085.9-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第9部分:太陽輻身;
      GB/T 12085.10-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分:振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗;
      GB/T 12085.11-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第11部分:長霉;
      GB/T 12085.12-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第12部分:污染;
      GB/T 12085.13-2010 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第13部分:沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗;
      GB/T 12085.14-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第14部分:露、霜、冰;
      GB/T 12085.15-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分:寬帶隨機振動(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗;
      GB/T 12085.16-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗;
 
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